Сканирующая электронная микроскопия (scanning electron microscopy, SEM)

Сканирующая электронная микроскопия (scanning electron microscopy, SEM) - Метод анализа поверхностной структуры микрообъекта путем анализа отраженного «электронного изображения» (как правило, при специальном напылении и с применением лиофилизации объекта, что позволяет повышать его электронную плотность и предотвращать деформации клеточных и др. структур).

Комментарии*

Дополнения к описанию:

  • Принцип работы: основан на сканировании поверхности образца сфокусированным пучком электронов высоких энергий (обычно 0.5-30 кэВ)
  • Детекторы: регистрируют вторичные электроны (отображают топографию), обратнорассеянные электроны (показывают контраст по атомному номеру) и характеристическое рентгеновское излучение (элементный анализ)
  • Разрешение: современные приборы достигают разрешения 1 нм и менее
  • Применение:
    • Материаловедение: исследование структуры металлов, полимеров, композитов
    • Биология: изучение ультраструктуры клеток, тканей, микроорганизмов
    • Нанотехнологии: характеристика наноматериалов и наноструктур
    • Криминалистика: анализ следов и вещественных доказательств
  • Преимущества: большая глубина резкости, трехмерное изображение, возможность элементного анализа
*Подобраны с помощью LLM, верифицированы, но возможны неточности.

Читайте еще

Электронная микроскопия — основы и применение Туннельная сканирующая микроскопия — принцип работы и преимущества метода Микрокристаллоскопия — метод качественного анализа Микрокристаллоскопия — метод качественного микрохимического анализа Электронография — метод исследования атомной структуры кристаллов Электрогравиметрия — электрохимический метод анализа Сенсибилизация фотографических материалов Дефектоскопия — методы и виды Фотоэлектронная спектроскопия — основы и применение Всё о фотографических материалах — виды, характеристики и применение Репрография — основные методы и технологии копирования Молекулярная оптическая спектроскопия — основы и применение Оптическая сенсибилизация фотоматериалов Спектрофотометрия — основы и применение в химии

Мы используем файлы cookie для корректной работы сайта и сервис Яндекс.Метрика для анализа посещаемости. Продолжая пользоваться сайтом, вы соглашаетесь с обработкой файлов cookie. Подробнее — в политике конфиденциальности.